发布时间：2022-05-23 10:32:46
半导体应用广泛，相关的试验设备有多种，下面简单介绍下常见半导体试验设备的标准如下：
1.温度循环（冷热冲击测试箱）参考标准：JESD22-A104
温度范围：-65℃~150℃
低温冲击：-40℃，-55℃，-65℃
高温冲击：65℃，85℃，125℃
温度冲击时间小于3min，1min
温度保持时间30min，60min
测试时间不能少于1000个循环
2.热压器/无偏压 HAST测试 参考标准：JESD22-A118
温度范围：100℃~143℃
湿度范围：70%RH~***RH
压力范围：0.5kg~3.5kg
测试时间不能少于200小时，具体根据用户实际要求，有些需要达到500小时到1000小时等不同时间
3.其他测试标准：GB/T 2423.1-2001 试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法，GJB 150.3-1986 高温试验， 低温试验， GB 11158《高温试验箱技术条件》， IEC60068-2-14 等测试标准，如需了解更多测试标准请来电咨询。
